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偏振干涉成像光谱仪中CCD的成像分析
【摘要】 光谱仪采集目标像的干涉图最终需要通过CCD系统来成像,为了能得到更高的图像分辨率和成像质量,需要不断优化CCD成像系统,偏振干涉成像光谱仪CCD成像系统一般包含两个部分:一是通常所说的光学成像系统,另一部分是CCD图像传感器采样记录系统。本文通过分析和描述CCD的采样过程,来讨论光谱在CCD成像过程中的频谱传输特性,并论述由于离散采样过程带来的频谱混迭对CCD成像系统中成像质量的影响。
- 【文献出处】 科技信息 ,Science & Technology Information , 编辑部邮箱 ,2010年13期
- 【分类号】TN386.5
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