节点文献

试析塑封电子元器件温度失效机理研究

On the Plastic Temperature Failure Mechanism of Electronic Components

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 杨斌

【Author】 Yang Bin;Guizhou Zhenhua WIKO Electronics Co.,Ltd.;

【机构】 贵州振华永光电子有限公司

【摘要】 塑封电子元器件在如今的封装产业中有着其他器件不可替代的优势,对其性能与功能的研究引起了社会的高度关注。文章首先从三个方面对塑封电子元器件的温度失效问题进行了详细地概述,然后从冲温与低温失效、潮气入侵、以及塑封工艺缺陷3个方面对塑封电子元器件的失效机理一一阐述清楚,希望对同行业朋友有所参考价值。

【Abstract】 Plastic electronic components in today’ s packaging industry have other irreplaceable advantages.The study on the performance and function attracts high attention of the society This article first gives a detailed overview oftemperature failure of encapsulated electronic components from three aspects and clearly elaborates from red and lowtemperature failure and moisture intrusion encapsulation process,defects which have reference value for friends in thesame industry

  • 【文献出处】 现代工业经济和信息化 ,Modern Industrial Economy and Informationization , 编辑部邮箱 ,2015年10期
  • 【分类号】TN605
  • 【下载频次】50
节点文献中: